Imej Produk
![]() | ![]() | ![]() | ![]() |
![]() | ![]() | ![]() | ![]() |
![]() | ![]() | ![]() | ![]() |
![]() | ![]() | ![]() | ![]() |
![]() | ![]() | ![]() | ![]() |
Maklumat Produk
pin pogo jenis asas biasa
PEK:
Pukal: beg aluminium foil.
kekili: diameter Φ330mm; lebar pita pembawa: 12, 16, 24, 32, 44mm.
===================================================================================================
Prestasi elektrik | ||||
---|---|---|---|---|
1 | Impedans kenalan | 30 mohm Maks pada pukulan kerja | Piawaian ujian kilang Pautan Teratas* | |
2 | Rintangan Penebat | 500 Mohm Min | EIA-364-21 | |
3 | Voltan Tahan Dielektrik | Tiada kilat-over, pelepasan udara, kerosakan atau kebocoran | EIA-364-20 | |
4 | Kenaikan Suhu vs Penilaian Semasa | 30 °C Maks. kenaikan suhu pada arus yang ditentukan | EIA-364-70 | |
Prestasi mekanikal | ||||
1 | Kuasa musim bunga | rujuk lukisan produk | EIA-364-04 | |
2 | Pasukan Pengekalan | 0.5Kgf(4.5N)Min. | EIA-364-29 | |
3 | Ketahanan | 10,000 kitaran Min. Tiada kerosakan fizikal Rintangan selepas ujian 30 mohm Maks. | EIA-364-09 | |
4 | Getaran | Tiada kerosakan fizikal, Tiada ketakselanjaran elektrik lebih daripada 1i saat. | EIA-364-28 | |
5 | Kejutan Mekanikal | Tiada kerosakan fizikal, Tiada ketakselanjaran elektrik lebih daripada 1i saat. | Kaedah EIA-364-27 A | |
alam sekitar | ||||
1 | Kebolehpaterian | kawasan liputan pateri Min.95% | EIA-364-52 | |
2 | Kakisan Semburan Garam | Tiada kerosakan fizikal. Rintangan selepas ujian 100 mohm Maks. | EIA-364-26 syarat B | |
3 | Rintangan kepada haba pateri (IR/perlambaan) | Tiada keretakan, serpihan, pencairan, oblister | EIA-364-56 | |
4 | Kelembapan | Tiada kerosakan fizikal, Rintangan selepas ujian 100 mohm Max. | EIA-364-31,kaedah ii,syarat A | |
5 | Kejutan Terma | Tiada kerosakan fizikal, Rintangan selepas ujian 100 mohm Max. | EIA-364-32,kaedah ii | |
6 | Kehidupan Suhu | Tiada kerosakan fizikal, Rintangan selepas ujian 100 mohm Max. | EIA-364-17, keadaan A, keadaan 4 | |
alam sekitar | ||||
1 | daya kupas | 10-130 gf | EIA-481 | |
2 | Ujian Gugur | Rujuk kepada ujian jatuh Standard Molex |